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LCR測試儀・電阻計
LCR測試儀｜阻抗分析儀
阻抗分析儀 〜3GHz
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等效回路分析軟體 IM9000
- 可進行簡單的回路/電路分析、詳細的PASS/FAIL判斷 IM3570用組裝選件
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LCR阻抗分析儀 IM7587
- 可靠的高頻機型，測量頻率：1MHz～3GHz 具備分析模式下同時進行掃描測量頻率、測量信號電平並進行測量的功能之LCR阻抗分析儀
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LCR阻抗分析儀 IM7585
- LCR阻抗分析儀，測量時間最快0.5ms，測量頻率：1MHz～1.3GHz 在測量中實現高速與高穩定性，可縮短時間、提高效能
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LCR阻抗分析儀 IM7583
- LCR阻抗分析儀，測量時間最快0.5ms，測量頻率：1MHz～600MHz 在測量中實現高速與高穩定性，提高生產量
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LCR阻抗分析儀 IM7581
- LCR阻抗分析儀，最快0.5ms，覆蓋100kHz~300MHz的低頻 具備豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定） 使用分析功能可在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
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LCR阻抗分析儀 IM7580A
- LCR阻抗分析儀，最快0.5ms，測量頻率：1MHz~300MHz 具備豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定） 使用分析功能可在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
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LCR化學阻抗分析儀 IM3590
- LCR化學阻抗分析儀，用於測量電氣化學零件和材料/電池/EDLC(電氣雙層電容) 基本精度±0.05%，零件檢查到研究開發測量均可對應 最快2ms的高速測量，實現掃描測量的高速化
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LCR阻抗分析儀 IM3570
- LCR阻抗分析儀，測量頻率：4Hz～5MHz，一台儀器實現不同測量條件下的高速檢查 適用於壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量 分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
LCR測試儀 〜10MHz
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LCR測試儀（LCR Meter） IM3523A
- LCR測試儀
- 測量頻率：DC,40Hz～200kHz
- 測量時間：2ms
- 應用於生產線和自動化測試領域的理想選擇
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LCR測試儀（LCR Meter） IM3536
- LCR中的標竿產品，DC，4Hz~8MHz測量頻率
- 在大範圍的測量條件下，最適用於研發和實際使用時的評估
- 2台儀器的工作1台即可完成，擁有良好的簡化系統並可節省空間
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LCR測試儀（LCR Meter） IM3533
- LCR測試儀，測量頻率：1mHz～200kHz 應用覆蓋線圈&變壓器生產到研發等諸多領域
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LCR測試儀（LCR Meter） IM3523
- LCR測試儀，測量頻率：DC,40Hz～200kHz 測量時間：2ms 應用於生產線和自動化測試領域的理想選擇
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LCR測試儀（預計廢止） 3511-50
- |Z|、L、C、R 測試
- 測量頻率120 Hz 或 1 kHz
- 5 ms 測試速度，±0.08% 精度
- 內置高速比較器
- 可組裝至自動化產線中
- 電容器和線圈的機上測試
C測試儀 〜1MHz
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C測試儀 3506-10
- C、D、（tan δ）、Q、低電容測試
- 測量頻率1 kHz 或 1 MHz
- 1.5 ms 測試速度 (1MHz)，±0.14% 精度
- 在產線上對陶瓷電容器進行高速測試
- 與自動測包機、包裝機和分選機組裝，用於生產 MLCC（多層陶瓷電容器）
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C測試儀 3504-60
- C、D (tan δ)、大電容 MLCC 測試
- 測量頻率120Hz 或 1kHz
- 2 ms 測試速度，±0.09% 精度
- 透過使用恆壓測試 (CV) 進行具有電壓相關特性的電容測試
- 檢測所有 4 個端子上的接觸故障以提高可靠性
- 高速檢查測包機、包裝機上的多層陶瓷電容器 (MLCC)
- 配備GP-IB, RS-232C
- BIN測量功能
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C測試儀 3504-50
- C、D (tan δ)、大電容 MLCC 測試
- 測量頻率120Hz 或 1kHz
- 2 ms 測試速度，±0.09% 精度
- 透過使用恆壓測試 (CV) 進行具有電壓相關特性的電容測試
- 高速檢查測包機、包裝機上的多層陶瓷電容器 (MLCC)
- 配備GP-IB, RS-232C
- BIN測量功能
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C測試儀 3504-40
- C、D (tan δ)、大電容 MLCC 測試
- 測量頻率120Hz 或 1kHz
- 2 ms 測試速度，±0.09% 精度
- 透過使用恆壓測試 (CV) 進行具有電壓相關特性的電容測試
- 高速檢查測包機、包裝機上的多層陶瓷電容器 (MLCC)
- 配備RS-232C接口
測試治具、探棒
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鑷形探棒 L2001
- DC 至 8MHz，50Ω 終端
- 尖端電極間距：0.3 至 6 mm
- 可測量樣品尺寸：0603 (EIA)
- 用於小芯片元件 LCR 測試的 2 線探針
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測試夾具 IM9202
- 阻抗分析儀 IM7580 系列的測試夾具
- 高達 600 MHz 的高頻測試
- 正確識別 SRF 和 ESR 以驗證零組件性能
- 靈活的分級機制支援多種零組件形狀和尺寸
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SMD測試夾具 IM9201
- 用於直接連接的兩線測試
- DC 至 3 GHz
- 6 種可測量的樣本尺寸：0201 ～ 1210 (EIA)
- IM7580 系列阻抗分析儀的測試夾具
- 高頻分析
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SMD測試夾具 IM9110
- 用於直接連接兩線測試
- DC 至 1 MHz
- 可測量樣本尺寸：008004 (EIA)
- 高精度兩線製夾具
- 採用先進的接觸技術，重現性佳
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SMD測試夾具 IM9100
- 直接連接測試
- 適用測試底部帶有電極的 SMD
- DC 至 8MHz
- 可測量的樣品尺寸：01005 至 0402 (EIA)
- 先進電子元件的高精度 4 線測試