產品一覽
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LCR METER|電阻計
LCR METER|阻抗分析儀
LCR METER的原理‧測量方法‧使用方法
針對LCR METER的測量原理與測量方法、使用方法的基礎知識進行解說。並且也會詳細說明阻抗分析儀等電子產品的測量方法與注意事項。
阻抗分析儀 〜3GHz
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等效迴路分析軟體 IM9000
- 可進行簡單的迴路/電路分析、詳細的PASS/FAIL判斷 IM3570用組裝選件
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阻抗分析儀 IM7587
- 可靠的高頻機型,測量頻率:1MHz~3GHz 具備分析模式下同時進行掃描測量頻率、測量信號電平並進行測量的功能之LCR阻抗分析儀
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阻抗分析儀 IM7585
- LCR阻抗分析儀,測量時間最快0.5ms,測量頻率:1MHz~1.3GHz 在測量中實現高速與高穩定性,可縮短時間、提高效能
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阻抗分析儀 IM7583
- LCR阻抗分析儀,測量時間最快0.5ms,測量頻率:1MHz~600MHz 在測量中實現高速與高穩定性,提高生產量
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阻抗分析儀 IM7581
- LCR阻抗分析儀,最快0.5ms,覆蓋100kHz~300MHz的低頻 具備豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定) 使用分析功能可在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
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阻抗分析儀 IM7580A
- 測量頻率:1MHz~300MHz
- 可掃描頻率與電平的阻抗分析功能
- 可依照設定條件重複檢查的LCR METER功能
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化學阻抗分析儀 IM3590
- LCR化學阻抗分析儀,用於測量電氣化學零件和材料/電池/EDLC(電氣雙層電容) 基本精度±0.05%,零件檢查到研究開發測量均可對應 最快2ms的高速測量,實現掃描測量的高速化
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阻抗分析儀 IM3570
- LCR阻抗分析儀,測量頻率:4Hz~5MHz,一台儀器實現不同測量條件下的高速檢查 適用於壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量 分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
LCR METER 〜10MHz
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LCR Meter IM3523A
- LCR測試儀
- 測量頻率:DC,40Hz~200kHz
- 測量時間:2ms
- 應用於生產線和自動化測試領域的理想選擇
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LCR Meter IM3536
- LCR Meter中的標竿產品,DC,4Hz~8MHz測量頻率
- 在大範圍的測量條件下,最適用於研發和實際使用時的評估
- 2台儀器的工作1台即可完成,擁有良好的簡化系統並可節省空間
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LCR Meter IM3533
- LCR測試儀,測量頻率:1mHz~200kHz 應用覆蓋線圈&變壓器生產到研發等諸多領域
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LCR Meter IM3523
- LCR測試儀,測量頻率:DC,40Hz~200kHz 測量時間:2ms 應用於生產線和自動化測試領域的理想選擇
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LCR METER (預計停產) 3511-50
- |Z|、L、C、R 測試
- 測量頻率120 Hz 或 1 kHz
- 5 ms 測試速度,±0.08% 精度
- 內置高速比較器
- 可組裝至自動化產線中
- 電容器和線圈的機上測試
C測試儀 〜1MHz
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C測試儀 3506-10
- C、D、(tan δ)、Q、低電容測試
- 測量頻率1 kHz 或 1 MHz
- 1.5 ms 測試速度 (1MHz),±0.14% 精度
- 在產線上對陶瓷電容器進行高速測試
- 與自動測包機、包裝機和分選機組裝,用於生產 MLCC(多層陶瓷電容器)
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C測試儀 3504-60
- C、D (tan δ)、大電容 MLCC 測試
- 測量頻率120Hz 或 1kHz
- 2 ms 測試速度,±0.09% 精度
- 透過使用恆壓測試 (CV) 進行具有電壓相關特性的電容測試
- 檢測所有 4 個端子上的接觸故障以提高可靠性
- 高速檢查測包機、包裝機上的多層陶瓷電容器 (MLCC)
- 配備GP-IB, RS-232C
- BIN測量功能
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C測試儀 3504-50
- C、D (tan δ)、大電容 MLCC 測試
- 測量頻率120Hz 或 1kHz
- 2 ms 測試速度,±0.09% 精度
- 透過使用恆壓測試 (CV) 進行具有電壓相關特性的電容測試
- 高速檢查測包機、包裝機上的多層陶瓷電容器 (MLCC)
- 配備GP-IB, RS-232C
- BIN測量功能
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C測試儀 3504-40
- C、D (tan δ)、大電容 MLCC 測試
- 測量頻率120Hz 或 1kHz
- 2 ms 測試速度,±0.09% 精度
- 透過使用恆壓測試 (CV) 進行具有電壓相關特性的電容測試
- 高速檢查測包機、包裝機上的多層陶瓷電容器 (MLCC)
- 配備RS-232C接口
測試治具、探棒
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鑷形探棒 L2001
- DC 至 8MHz,50Ω 終端
- 尖端電極間距:0.3 至 6 mm
- 可測量樣品尺寸:0603 (EIA)
- 用於小芯片元件 LCR 測試的 2 線探針
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測試夾具 IM9202
- 阻抗分析儀 IM7580 系列的測試夾具
- 高達 600 MHz 的高頻測試
- 正確識別 SRF 和 ESR 以驗證零組件性能
- 靈活的分級機制支援多種零組件形狀和尺寸
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SMD測試夾具 IM9201
- 用於直接連接的兩線測試
- DC 至 3 GHz
- 6 種可測量的樣本尺寸:0201 ~ 1210 (EIA)
- IM7580 系列阻抗分析儀的測試夾具
- 高頻分析
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SMD測試夾具 IM9110
- 用於直接連接兩線測試
- DC 至 1 MHz
- 可測量樣本尺寸:008004 (EIA)
- 高精度兩線製夾具
- 採用先進的接觸技術,重現性佳
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SMD測試夾具 IM9100
- 直接連接測試
- 適用測試底部帶有電極的 SMD
- DC 至 8MHz
- 可測量的樣品尺寸:01005 至 0402 (EIA)
- 先進電子元件的高精度 4 線測試