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飛針ICT測試機 FA1240-6X
透過電性測試驗證打件後的正確性
- Step By Step 操作方式，程式設定可以在短時間內完成，同時考慮到零件高度
- 手臂干涉自動計算（與UA1780結合使用）
- 使用次數提升10倍的高耐磨探針，無需特殊工具即可輕鬆更換
- 實現電子零件的空焊檢測，提昇檢出率
- 複合零件的分離檢查和保護
- 使用低電壓0.2V的進行測量
FA1240-61（對應大尺寸基板）
FA1240-63（對應中型基板）
FA1241-61（對應CE大尺寸基板）
FA1240-63（對應中型基板）
FA1241-61（對應CE大尺寸基板）
飛針ICT測試機FA1240介紹
透過4端子測試針，「高速」「高精度」「免治具」實現電池模組的檢查。
透過電氣性能測試，驗證元件貼裝的準確性
電氣測試的結果必定含有測量值。
將不可見的電氣特性等視覺化，確認其是否符合設計要求，以數值來保證出貨狀態。
在貼裝基板的測試現場一定會配備方便的三用電表（DMM）。飛針測試機不僅是測量不明常數的晶片數值，並且透過小間距測點的接觸，可以自動進行IC引腳間的焊錫狀態、BGA複雜點位元間的確認等｢看不到的部位的檢測｣。
飛針測試機是在生產現場用來檢測基板是否正確貼裝的，同時也是可實現低成本少工序進行電氣測試的檢測設備。
將不可見的電氣特性等視覺化，確認其是否符合設計要求，以數值來保證出貨狀態。
在貼裝基板的測試現場一定會配備方便的三用電表（DMM）。飛針測試機不僅是測量不明常數的晶片數值，並且透過小間距測點的接觸，可以自動進行IC引腳間的焊錫狀態、BGA複雜點位元間的確認等｢看不到的部位的檢測｣。
飛針測試機是在生產現場用來檢測基板是否正確貼裝的，同時也是可實現低成本少工序進行電氣測試的檢測設備。
讓電池模組的檢查做到「高速」「高精度」「免治具」
透過飛針4端子探棒的使用，讓電池模組的檢查可以以「高速」「高精度」「免治具」的方式進行。
確實檢測引腳的空焊和虛焊
引腳的空焊和虛焊是在基板生產程序中最容易避過各種測試流到市場的不良情形。
引腳的空焊不良透過實動測試、功能測試以及現有的外觀檢查的方式，大都可檢測出來。
但是對於外觀無法識別的虛焊不良的話，就只能使用HIOKI獨有的電阻測試技術來檢測了。
透過4端子測試方法（開爾文方式）精確測量引腳與焊盤間的電阻值，確切的判別良品與虛焊時電阻值的差異。
引腳的空焊不良透過實動測試、功能測試以及現有的外觀檢查的方式，大都可檢測出來。
但是對於外觀無法識別的虛焊不良的話，就只能使用HIOKI獨有的電阻測試技術來檢測了。
透過4端子測試方法（開爾文方式）精確測量引腳與焊盤間的電阻值，確切的判別良品與虛焊時電阻值的差異。
專注於測試點和 Gerber 數據的重要性
簡單地程式製作 ≠ 簡單地生產測試 這句話對一半錯一半。
在離散的時代可能說得通，但現在FA1240所追求的是「簡單地-正確地-製作測試程式」。
讓測試機動作的程式與可做出貨檢測用的程式之間的差異化越小，（依程式調試時間）產線停線時間就越短，就可使產品安心出貨。
「迅速地」製作「可用的」測試程式，是GerberData與MountData共同配合的結果。
檢查數據製作軟體 FIT-LINE UA1780
在離散的時代可能說得通，但現在FA1240所追求的是「簡單地-正確地-製作測試程式」。
讓測試機動作的程式與可做出貨檢測用的程式之間的差異化越小，（依程式調試時間）產線停線時間就越短，就可使產品安心出貨。
「迅速地」製作「可用的」測試程式，是GerberData與MountData共同配合的結果。
檢查數據製作軟體 FIT-LINE UA1780
採用視窗化的工作流程圖指引
這是只需按照工作流程圖指引，即可一路完成測試程式製作的系統。
不僅平時可以簡單地進行資料製作，後續跟進人員在看過後也可把握進度。
不僅平時可以簡單地進行資料製作，後續跟進人員在看過後也可把握進度。
不會碰撞元件的自動下針測試
您是否仍在進行著一邊看著探針針尖，一邊擔心「碰到了嗎？沒碰到嗎？」這樣的確認作業呢？
如果無需人工選擇探針的話，作業員的調試工時也會大幅縮短。 在FA1240測試程式上預先登錄了每個元件的高度與貼裝尺寸。系統根據這些資訊自動地選擇測試探針（也有可能選擇無法使用的探針）。這樣就可以安心地進行電氣特性測試的調試了。
如果無需人工選擇探針的話，作業員的調試工時也會大幅縮短。 在FA1240測試程式上預先登錄了每個元件的高度與貼裝尺寸。系統根據這些資訊自動地選擇測試探針（也有可能選擇無法使用的探針）。這樣就可以安心地進行電氣特性測試的調試了。
新型超硬探針
新型超硬探針即使經過300萬次的測試，針尖也無磨損。
減少了探針的更換作業，在提升對小測點測試性能的同時，也縮短了測試時間。針尖磨損是導致探針打滑的主要原因，不僅導致Onepass率低下，嚴重時還會對測試基板造成損傷。所以探針品質也是評估測試設備性能的一個重要的專案。
減少了探針的更換作業，在提升對小測點測試性能的同時，也縮短了測試時間。針尖磨損是導致探針打滑的主要原因，不僅導致Onepass率低下，嚴重時還會對測試基板造成損傷。所以探針品質也是評估測試設備性能的一個重要的專案。
「程式設計、測試、確認」 貼裝基板的電氣測試系統
請務必體驗新開發的量產測試系統。
「程式設計」測試資料製作系統 UA1780
「測試」線上測試機 FA1240
「確認」FAIL VIEWER UA1782
在貼裝基板的測試中，正確製作測試程式、正確測試物件基板、正確確認不良異常是非常重要的。
「程式設計」測試資料製作系統 UA1780
「測試」線上測試機 FA1240
「確認」FAIL VIEWER UA1782
在貼裝基板的測試中，正確製作測試程式、正確測試物件基板、正確確認不良異常是非常重要的。
FA1240-6X
概略規格
| FA1240-61 FA1241-61 |
FA1240-63 | |
| 手臂數量 | 4手臂 (L, ML, MR, R) | |
| 測試步數 | 40,000步 (最大) | |
| 測定範囲 | 電阻：400μΩ〜40ＭΩ 電容：1pF〜400ｍF 電感：1μH〜100H 二極體VZ測試：0〜25V 齊納二極體VZ測試：0〜25V, 25〜80V (選件) 數字三極管：0〜25V 光 耦：0〜25V 短 路：0.4Ω〜400kΩ 開 路：4Ω〜40MΩ 直流電壓測試：0〜25V 功能電壓測試：±40V (選件) 繼電器ON電阻測試：40m〜40Ω (選件) FET ON電阻測試：400m〜400Ω (選件) 簡易功能測試：±25V (選件) |
|
| 測試速度 | 0.025s/step〜 | 0.025s/step〜 |
| 定位精度 | 各手臂±100 μm以內 (X-Y各方向) | |
| 移動重複精度 | ±50 μm以內 (測試點位置) | |
| 最小測試針間距 | 0.15 mm (4端子探針、0.5 mm) |
0.15 mm (4端子探針、0.5 mm) |
| 測試可能尺寸 | 510W × 460D mm | 400W × 330D mm |
| 電源 | AC200 V (單相) 50/60 Hz, 6 kVA(FA1241为AC230 V) |
AC200 V (單相) 50/60 Hz, 5 kVA |
| 尺寸・重量 | 1406W × 1300H × 1380D mm, 1150 kg | 1266W × 1369H × 1425D mm, 1050 kg |
產品型錄
| 項目 | 分類 | 版本 | 公開日期 |
