C測試儀 3506-10

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對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試

模擬測量時間0.6ms(1MHz)的高速測量
提高了抗干擾性，在產線的上也能實現高反復精度
1kHz、1MHz測量下，低電容的貼片時可穩定測量
根據BIN的測定區分容量

輸入用探頭/測試夾具，實體不附帶。按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件。 ※RS-232C用連接線可以使用支持網路連接的市面上銷售的交叉線。RS-232C連接線9637除硬體流控制之外的情況下可以使用。

3506-10

基本參數

測量參數	C(電容),D(損耗係數tanδ), Q (1/tan δ)
測量範圍	C:0.001fF～15.0000μF D: 0.00001 ～ 1.99999 Q:0.0 ～ 19999.9
基本精度	(代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013
測量頻率	1kHz, 1MHz
測量信號電平	500mV, 1V rms
輸出電阻	1Ω (在1kHz 時2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程)
顯示	LED(6位元顯示,滿量程由點數有效距離來決定)
測量時間	1.5ms：1MHz， 2.0 ms：1kHz
功能	BIN分類測量, 觸發同步輸出, 測量條件記憶, 測量值比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動功能, 電流檢測監視功能, 輸出電壓值監視功能, 控制用輸入輸出 (EXT. I/O), RS-232C介面, GP-IB介面
電源	AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, 最大40VA
體積及重量	260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg
附件	電源線× 1, 電源備用保險絲× 1，使用說明書× 1

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列印相關

記錄紙 1196
- 112 mm × 25 m，10捲一組
連接線 9444
- 9pin-9pin直線型，1.5m

探棒、測試治具

SMD測試夾具 IM9100
- 直接連接測試
- 適用測試底部帶有電極的 SMD
- DC 至 8MHz
- 可測量的樣品尺寸：01005 至 0402 (EIA)
- 先進電子元件的高精度 4 線測試
SMD測試夾具 IM9110
- 用於直接連接兩線測試
- DC 至 1 MHz
- 可測量樣本尺寸：008004 (EIA)
- 高精度兩線製夾具
- 採用先進的接觸技術，重現性佳
鑷形探棒 L2001
- DC 至 8MHz，50Ω 終端
- 尖端電極間距：0.3 至 6 mm
- 可測量樣品尺寸：0603 (EIA)
- 用於小芯片元件 LCR 測試的 2 線探針
測試治具 9262
- 直連式
- DC〜8MHz（與特注品 IM3536-01搭配使用時，最大可測量10 MHz）
- 可測量端子直徑：0.3〜2mm
SMD測試治具 9263 9263
- 直連式
- DC〜8MHz（與特注品 IM3536-01搭配使用時，最大可測量10 MHz）
- 被測物尺寸：1〜10mm
SMD測試治具 9677
- 直連式，側邊有電極的SMD用，DC〜120MHz，被側物尺寸：3.5 ±0.5mm
SMD測試治具 9699
- 直連式，側邊有電極的SMD用, DC〜120MHz
- 被側物尺寸：寬1.0〜4.0mm，高度1.5mm 以下
前端探針 IM9901
- L2001前端更換用通用尺寸，L2001標準配備品
前端探針 IM9902
- L2001前端更換用，小型尺寸
4端子探棒 9140-10
- 線長1m
- DC〜200kHz, 50Ω
- 可測量端子直徑：0.3〜5mm
測試治具 9261-10
- 線長1m
- DC〜8MHz, 50Ω
- 可測量端子直徑：0.3〜1.5mm
4端子探棒 9500-10
- 線長1m
- DC〜200kHz, 50Ω
- 可測量端子直徑：0.3〜2mm
4端子探棒 L2000
- 線長1m，DC〜8MHz（與特注品 IM3536-01搭配使用時，最大可測量10 MHz），50Ω，可測量端子直徑：0.3〜5mm

PC傳輸

GP-IB連接線 9151-02
- 2 m

產品型錄

電子零件應用案例	2024.08	pdf（11.82M） file_download
電容測試儀3506-10、3504-60_50_40		pdf（4.45M） file_download
SMD測試夾具IM9110	2023.08	pdf（18.23M） file_download