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飛針+治具二合一測試機 FA1811返回上一頁

概 要

PAD最小可達10um,實現高精度、高速度的測試

  • 封裝載板測試新選擇。解析能力、檢查速度提升、成本降低,滿足生產的需求
  • PAD最小可達10um,實現高精度、高速度的測試
  • 實現稼動率100%的雙重檢查方式(上飛針+下治具)
  • 最高10倍速的All Net 絕緣檢查 (與飛針設備比較)
  • 電容測試速度提升兩倍※

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