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LCR阻抗分析儀IM3570返回上一頁

概 要

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一台儀器實現不同測量條件下的高速檢查

  • 一台儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查
  • LCR模式下最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測量
  • 基本精度±0.08%的高精度測量
  • 適用於壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量
  • 分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
  • 可以用於無線充電評價系統TS2400

主機不標配治具。請根據您的需求選擇選件中的治具和探頭。

阻抗分析儀IM3570:測量壓電元件的諧振特性

IM3570同時用作LCR表和阻抗分析儀,可以使用其掃頻測量和峰值比較器功能在諧振條件下生成通過/失敗判斷,還可以在不同條件下進行連續檢查,包括通過1確定通過/失敗。 kHz和120 Hz LCR測試。這樣,可以通過一台儀器進行掃頻測量和LCR測量。

IM3570同時用作LCR表和阻抗分析儀,可以使用其掃頻測量和峰值比較器功能在諧振條件下生成通過/失敗判斷,還可以在不同條件下進行連續檢查,包括通過1確定通過/失敗。 kHz和120 Hz LCR測試。這樣,可以通過一台儀器進行掃頻測量和LCR測量。

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應用信息

下載示例應用程序,並查看《 Communication Command用戶手冊》。

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精度計算信息

只需輸入一個數值即可計算精度。

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規格表

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