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LCR化學阻抗分析儀IM3590返回上一頁

概 要

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用於測量電氣化學零件和材料/電池/EDLC(電氣雙層電容)

  • 適用於離子運動和溶液電阻測量,1mHz ~ 200kHz的寬範圍信號源
  • 一台機器即可實現LCR測量、掃描測量的連續測量和高速檢查
  • 可測量電池的無負載狀態產生的內部電阻
  • 最快2ms的高速測量,實現掃描測量的高速化
  • 基本精度±0.05%,零件檢查到研究開發測量均可對應
  • 適用於Cole-Cole圖、等效電路分析等電器化學零件和材料的電阻(LCR)測量

注:主機不帶測試治具。請從選件中選擇測試治具和探頭。
※ RS-232C用連接線可使用普通的對應聯鎖的交叉線。RS-232C連接線9637僅可在不使用硬體流程控制時使用。

Hioki IM3590化學阻抗分析儀:
電池內阻測量和電池測量功能

Hioki IM3590可以通過自動測量電池電壓並生成相同的DC電壓來測量空載狀態下電池的內阻。
•測量範圍:10mΩ至10Ω•電池電壓:5 V或以下
有關更多信息,請訪問
https://www.hioki.com/en/products/detail/?product_key=5749

Hioki IM3590可以通過自動測量電池電壓並生成相同的DC電壓來測量空載狀態下電池的內阻。
•測量範圍:10mΩ至10Ω•電池電壓:5 V或以下
有關更多信息,請訪問
https://www.hioki.com/en/products/detail/?product_key=5749

Hioki IM3590化學阻抗分析儀:
確定電子元件,壓電元件和諧振元件的頻率特性

Hioki IM3590具有頻率掃描測量(最多801個點),頻率特性測量和Cole-Cole曲線顯示功能,可輕鬆確定電子元件的特性。阻抗分析儀還可以掃描多個信號電平(電壓和電流)和直流偏置電壓。

Hioki IM3590具有頻率掃描測量(最多801個點),頻率特性測量和Cole-Cole曲線顯示功能,可輕鬆確定電子元件的特性。阻抗分析儀還可以掃描多個信號電平(電壓和電流)和直流偏置電壓。

Hioki IM3590化學阻抗分析儀:
通過時間間隔測量來確定電子組件的行為隨時間的變化

由於具有最多801個點的時間間隔測量功能,Hioki IM3590可以生成曲線圖,說明電子組件的特性如何響應環境條件(例如溫度)的變化而隨時間變化。

由於具有最多801個點的時間間隔測量功能,Hioki IM3590可以生成曲線圖,說明電子組件的特性如何響應環境條件(例如溫度)的變化而隨時間變化。

應用信息

下載示例應用程序,並查看《 Communication Command用戶手冊》。

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精度計算信息

只需輸入一個數值即可計算精度。

只需輸入一個數值即可計算精度。

規格表

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