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微電阻計RM3542返回上一頁

概 要

  • RM3542-01

  • 實現了自動化系統中所要求的速度和高精度
  • 雙重檢查功能保證準確接觸,實現可靠性測試
  • 可用於積體電路片電感器和EMC對應零件的低能耗電阻測量
  • 可用於製造工程中手動的抽樣檢查

單元中不包含試驗夾具。請在購買時選擇配套的試驗夾具。

借助接觸改善功能,快速確保可靠接觸

與測試物接觸時,可以刺破探頭和測試物之間的氧化膜和污垢,改善接觸狀態。透過改善接觸不良實現穩定的測量,而且能降低接觸錯誤率,從而提高生產效率。

與測試物接觸時,可以刺破探頭和測試物之間的氧化膜和污垢,改善接觸狀態。透過改善接觸不良實現穩定的測量,而且能降低接觸錯誤率,從而提高生產效率。

透過積分時間設定功能減少測量時間,實現更穩定的測量

根據需要為每個範圍設定積分時間-縮短以縮短節拍時間,或者延長以提高檢查的穩定性。

根據需要為每個範圍設定積分時間-縮短以縮短節拍時間,或者延長以提高檢查的穩定性。

規格表

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