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微電阻計RM3542A返回上一頁

概 要

  • RM3542-01

最適用於自動設備的電阻計,可測量極小電子元件

  • 透過施加電壓限制功能,檢查電壓可以改為5V以下
  • 控制衝擊電流的接觸改善功能,支援測量極小元件
  • 豐富的測量,確保檢測電壓,實現穩定測量
  • 縮放功能能夠補償實裝狀態或檢查階段的偏差

主機不帶治具。由於考慮到要組裝至自動設備中,因此請客戶按照用途自行製作。

RM3542A電阻計影片介紹

外加電壓限制功能能輕鬆測量極小電子元件(0201 尺寸)

透過將量測過程中施加的電壓限制在5V或以下,額定電壓較小的 0201 尺寸的元件無需外加壓力即可進行測量。

透過將量測過程中施加的電壓限制在5V或以下,額定電壓較小的 0201 尺寸的元件無需外加壓力即可進行測量。

借助接觸改善功能,快速確保可靠接觸

與測試物接觸時,可以刺破探頭和測試物之間的氧化膜和污垢,改善接觸狀態。透過改善接觸不良實現穩定的測量,而且能降低接觸錯誤率,從而提高生產效率。

與測試物接觸時,可以刺破探頭和測試物之間的氧化膜和污垢,改善接觸狀態。透過改善接觸不良實現穩定的測量,而且能降低接觸錯誤率,從而提高生產效率。

針對低功率測量的接觸改善功能

進行接觸改善時,透過控制流出測試物中的衝擊電流,可以將接觸改善的使用範圍擴大至小型的鐵氧體磁珠或 0201 尺寸的極小電阻檢查中。

進行接觸改善時,透過控制流出測試物中的衝擊電流,可以將接觸改善的使用範圍擴大至小型的鐵氧體磁珠或 0201 尺寸的極小電阻檢查中。

使用縮放功能可以補償並測量實際安裝狀態

透過縮放功能,能夠針對電路板實裝時和單品檢查時的電阻值差異(探測位置的影響等)進行補償。
在進行分流等低電阻的電流檢測電阻的檢查發揮作用。

透過縮放功能,能夠針對電路板實裝時和單品檢查時的電阻值差異(探測位置的影響等)進行補償。
在進行分流等低電阻的電流檢測電阻的檢查發揮作用。

規格表

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