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RM3542-01
主機不帶治具。由於考慮到要組裝至自動設備中，因此請客戶按照用途自行製作。
透過將量測過程中施加的電壓限制在5V或以下，額定電壓較小的 0201 尺寸的元件無需外加壓力即可進行測量。
透過將量測過程中施加的電壓限制在5V或以下，額定電壓較小的 0201 尺寸的元件無需外加壓力即可進行測量。
與測試物接觸時，可以刺破探頭和測試物之間的氧化膜和污垢，改善接觸狀態。透過改善接觸不良實現穩定的測量，而且能降低接觸錯誤率，從而提高生產效率。
與測試物接觸時，可以刺破探頭和測試物之間的氧化膜和污垢，改善接觸狀態。透過改善接觸不良實現穩定的測量，而且能降低接觸錯誤率，從而提高生產效率。
進行接觸改善時，透過控制流出測試物中的衝擊電流，可以將接觸改善的使用範圍擴大至小型的鐵氧體磁珠或 0201 尺寸的極小電阻檢查中。
進行接觸改善時，透過控制流出測試物中的衝擊電流，可以將接觸改善的使用範圍擴大至小型的鐵氧體磁珠或 0201 尺寸的極小電阻檢查中。
透過縮放功能，能夠針對電路板實裝時和單品檢查時的電阻值差異（探測位置的影響等）進行補償。
在進行分流等低電阻的電流檢測電阻的檢查發揮作用。
透過縮放功能，能夠針對電路板實裝時和單品檢查時的電阻值差異（探測位置的影響等）進行補償。
在進行分流等低電阻的電流檢測電阻的檢查發揮作用。
