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微電阻計RM3543返回上一頁

概 要

  • RM3543-01

用於測試超低或低並聯電阻的電阻計

  • 自動化系統中±0.16%的精度和0.01μΩ解析度
  • 反覆測量精度高
  • 提供高性能的接觸檢查功能,比較器功能和數據輸出功能
  • 直覺的用戶介面,強抗干擾性,最適用於自動一體化

主機不包含測量夾具。請選購選件中的測量夾具。

適用於超低電阻、分流電阻器的電阻計

電阻計 RM3543 能夠以±0.16%的高精度、0.01μΩ 的高解析度※測量0.1mΩ 低分流電阻等的直流電阻。(※將條件設定為 10mΩ 量程,測量速度 SLOW,平均 16 次時)

電阻計 RM3543 能夠以±0.16%的高精度、0.01μΩ 的高解析度※測量0.1mΩ 低分流電阻等的直流電阻。(※將條件設定為 10mΩ 量程,測量速度 SLOW,平均 16 次時)

減少熱電動勢影響的偏置電壓補償功能

熱電動勢是指不同金屬的接觸部分產生的電位差(如圖)。具體來說,會在車輛探頭和測量物件相接觸的部分、測量儀器和測量探頭的接觸部分所產生。熱電動勢的大小根據測量環境的溫度不同而有差異,溫差越大熱電動勢則越大。RM3543 搭載了偏置電壓補償功能,正負兩方中流過測試電流,在使用各自的檢測電壓後,去掉熱電動勢的影響。

熱電動勢是指不同金屬的接觸部分產生的電位差(如圖)。具體來說,會在車輛探頭和測量物件相接觸的部分、測量儀器和測量探頭的接觸部分所產生。熱電動勢的大小根據測量環境的溫度不同而有差異,溫差越大熱電動勢則越大。RM3543 搭載了偏置電壓補償功能,正負兩方中流過測試電流,在使用各自的檢測電壓後,去掉熱電動勢的影響。

使用縮放功能可以補償並測量實際安裝狀態

透過縮放功能,能夠針對電路板實裝時和單品檢查時的電阻值差異(探測位置的影響等)進行補償。
在進行分流等低電阻的電流檢測電阻的檢查發揮作用。

透過縮放功能,能夠針對電路板實裝時和單品檢查時的電阻值差異(探測位置的影響等)進行補償。
在進行分流等低電阻的電流檢測電阻的檢查發揮作用。

借助接觸改善功能,快速確保可靠接觸

與測試物接觸時,可以刺破探頭和測試物之間的氧化膜和污垢,改善接觸狀態。透過改善接觸不良實現穩定的測量,而且能降低接觸錯誤率,從而提高生產效率。

與測試物接觸時,可以刺破探頭和測試物之間的氧化膜和污垢,改善接觸狀態。透過改善接觸不良實現穩定的測量,而且能降低接觸錯誤率,從而提高生產效率。

徹底保證 4 端子測量,探頭短路檢測功能

車輛探頭的 POT-CUR 之間若有金屬異物,則無法徹底保證 4 端子連接。
在非測量的時候測量 POT-CUR 之間的電阻值,檢查探頭的短路異常情況。

車輛探頭的 POT-CUR 之間若有金屬異物,則無法徹底保證 4 端子連接。
在非測量的時候測量 POT-CUR 之間的電阻值,檢查探頭的短路異常情況。

規格表

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