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微電阻計RM3545返回上一頁

概 要

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  • RM3545-01

支持高精度·多通道(4端子20ch)

  • 基本精度0.006%,最小解析度0.01μΩ,最大測量電流1A
  • 可測範圍0.00μΩ(測試電流1A)~1200MΩ
  • 使用多路轉接器單元Z3003(選件)可進行多點測量(4端子20ch)和可綜合判斷的多路轉接器功能(僅限RM3545-02)
  • 開路端口電壓20mV以下的低功率電阻測量
  • 高速支持自動化判別,從測量開始到判斷輸出最快2.2ms

電阻計的使用方法:利用低功率電阻功能測量接觸電阻

IEC標準定義了用於測量信號非常低的連接器和繼電器的接觸電阻的方法。Hioki RM3545電阻表具有低功率電阻功能(也稱為乾電路測試)符合這些標準。為了不破壞接觸部分的氧化物層,開路端電壓的上限為20mV,而最大測量電流永遠不會超過1mA,這為測量0.1μΩ至1kΩ範圍內的接觸電阻提供了理想的測試環境。

IEC標準定義了用於測量信號非常低的連接器和繼電器的接觸電阻的方法。Hioki RM3545電阻表具有低功率電阻功能(也稱為乾電路測試)符合這些標準。為了不破壞接觸部分的氧化物層,開路端電壓的上限為20mV,而最大測量電流永遠不會超過1mA,這為測量0.1μΩ至1kΩ範圍內的接觸電阻提供了理想的測試環境。

如何使用電阻計:補償電磁力的影響

在測量低電阻時,由於不同金屬相互接觸時產生的電壓(稱為電磁力或EMF),測量值可能不穩定。
Hioki RM3545內置了失調電壓補償(OVC)功能來校正EMF的影響,使該儀器成為測量母線焊接點低電阻的理想選擇。

在測量低電阻時,由於不同金屬相互接觸時產生的電壓(稱為電磁力或EMF),測量值可能不穩定。
Hioki RM3545內置了失調電壓補償(OVC)功能來校正EMF的影響,使該儀器成為測量母線焊接點低電阻的理想選擇。

產品視頻

主要特性
•0.006%基本精度,最大0.01μΩ。分辨率,最大1A 測試電流
•測量範圍為0.00μΩ(測試電流1 A)至1200MΩ
•多路復用器單元Z3003(選件)提供20通道4端子測量,以全面評估多點信號(僅RM3545-02)
•低開路電壓不超過20 mV時的功率電阻測量
•高速,全面的生產力支持從頭到尾僅需2.2 ms即可做出決策

主要特性
•0.006%基本精度,最大0.01μΩ。分辨率,最大1A 測試電流
•測量範圍為0.00μΩ(測試電流1 A)至1200MΩ
•多路復用器單元Z3003(選件)提供20通道4端子測量,以全面評估多點信號(僅RM3545-02)
•低開路電壓不超過20 mV時的功率電阻測量
•高速,全面的生產力支持從頭到尾僅需2.2 ms即可做出決策

使用4端子法測量導電性材料的體積電阻率和表面電阻率

要點
•4端子法是指使用4針探頭,從運用4端子法測到的電阻值中求出體積電阻率、表面電阻率(薄層電阻)。 使用電阻計RM3545、4針探頭和PC應用軟體實現4端子測量。
•4針探頭有兩種,針距1.5mm和5.0mm。
•測量單位為體積電阻率、表面電阻率和電導率。 也可以作為參考值來選擇電阻值。
•從輸入的測試樣品的尺寸和座標,還能顯示所計算補償係數。
•裝有符合JIS K 7194標準的測量模式(使用5.0mm針探頭時) ※關於標準的詳細內容請另外諮詢。
•具備探測位置的引導顯示,測量歷史的顯示,測量結果的CSV輸出等應用程式特有的便利性。
•以基本精度0.006%,最高解析度0.01μΩ(RM3545的參數)來測量低電阻值。 從而匯出高精度的體積電阻率。

使用儀器
電阻計RM3545
4探針探頭(間距5.0mm)
4探針探頭(間距1.5mm)
※記載的內容是根據 2018年2月發行的儀器型號。 可能在產品款式上有更改,請以現在發行的為准。

規格表

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