首頁  > 產品一覽  > 日置產品一覽  > 安規標準測試器  > 脈衝線圈測試儀 ST4030A

日置產品一覽

Search Category

NEW脈衝線圈測試儀 ST4030A返回上一頁

概 要

通過回應波形的定量化,能在裝有轉子的成品狀態下進行檢查

  • 能夠檢測到以往很難檢測到的不良現象
  • 高精度的檢測波形(高速採樣200MHz×高解析度12bit)
  • 單匝線圈檢測(回應波形的定量化)
  • 通過檢測隱藏在噪音中的“微弱的局部放電”,掌握馬達線圈之間的絕緣不良情況(微短路)。(選件)

How to set the judgment area for LCRC value ST4030A

Hioki ST4030脈衝繞組測試儀 - 介紹性視頻

脈衝繞組測試儀ST4030在測量線圈時從響應波形中識別LC和RC特性。因為可以定量地處理電路常數值,所以用戶可以基於數值數據清楚地定義閾值,以確定線圈的通過/失敗條件。另外,因為測試結果是數字的,所以可以在統計上進一步利用數據作為質量控制的方法。每個故障的累積數據可以反饋到上游過程,以預測可能導致不合規繞組的條件,並有助於防止未來的缺陷。

脈衝繞組測試儀ST4030在測量線圈時從響應波形中識別LC和RC特性。因為可以定量地處理電路常數值,所以用戶可以基於數值數據清楚地定義閾值,以確定線圈的通過/失敗條件。另外,因為測試結果是數字的,所以可以在統計上進一步利用數據作為質量控制的方法。每個故障的累積數據可以反饋到上游過程,以預測可能導致不合規繞組的條件,並有助於防止未來的缺陷。

高精度波形檢測

可以以高精度檢測響應波形的輕微變化,這使得難以區分良好和有缺陷線圈之間的差異。200MHz高速採樣以非凡的細節捕捉突然變化,12位高分辨率提供了波形之間的明顯差異。
即使只是幾圈也可以檢測短路,即使只是幾圈,也可以輕鬆識別線圈中的差異,這種能力在過去很難實現。
合規和不合規產品之間的LC和RC分配為做出明智決策提供了明確的標準。

可以以高精度檢測響應波形的輕微變化,這使得難以區分良好和有缺陷線圈之間的差異。200MHz高速採樣以非凡的細節捕捉突然變化,12位高分辨率提供了波形之間的明顯差異。
即使只是幾圈也可以檢測短路,即使只是幾圈,也可以輕鬆識別線圈中的差異,這種能力在過去很難實現。
合規和不合規產品之間的LC和RC分配為做出明智決策提供了明確的標準。

即使只是幾圈也很難發現短路

現在,通過量化響應波形,即使只需幾圈,也可以輕鬆識別線圈中的差異,這種能力在過去很難實現。合規和不合規產品之間的LC和RC分配為做出明智決策提供了明確的標準。

現在,通過量化響應波形,即使只需幾圈,也可以輕鬆識別線圈中的差異,這種能力在過去很難實現。合規和不合規產品之間的LC和RC分配為做出明智決策提供了明確的標準。

轉子組裝後的測試

一旦轉子連接到電機的定子,轉子和定子之間的雜散電容將根據轉子所連接的位置而變化。雜散電容的這種變化意味著在脈衝測試期間獲得的響應波形變化,從而阻止使用傳統的波形比較方法。
雖然用於量化響應波形的LC和RC值也會因這些波形的變化而變化,但這些值的分佈因缺陷和無缺陷部分而異。
因此,只要已經創建了缺陷和無缺陷的部件判斷區域,就可以在安裝轉子之後執行脈衝測試。

一旦轉子連接到電機的定子,轉子和定子之間的雜散電容將根據轉子所連接的位置而變化。雜散電容的這種變化意味著在脈衝測試期間獲得的響應波形變化,從而阻止使用傳統的波形比較方法。
雖然用於量化響應波形的LC和RC值也會因這些波形的變化而變化,但這些值的分佈因缺陷和無缺陷部分而異。
因此,只要已經創建了缺陷和無缺陷的部件判斷區域,就可以在安裝轉子之後執行脈衝測試。

如何使用Hioki脈衝繞組測試儀ST4030

ST4030檢測到線圈繞組之間存在層短路,電機電感中存在缺陷。通過在施加脈衝電壓之後使用從參考線圈獲取的主波形,並將其與在被測線圈的特定間隔上的測量波形進行比較,得到的面積差異可以幫助容易且準確地確定通過或失敗。此外,響應波形的量化是Hioki開發的一種新方法,通過使用通過/失敗分佈圖,您甚至可以檢測單匝故障。觀看此視頻,了解如何輕鬆進行設置並立即開始測試。

ST4030檢測到線圈繞組之間存在層短路,電機電感中存在缺陷。通過在施加脈衝電壓之後使用從參考線圈獲取的主波形,並將其與在被測線圈的特定間隔上的測量波形進行比較,得到的面積差異可以幫助容易且準確地確定通過或失敗。此外,響應波形的量化是Hioki開發的一種新方法,通過使用通過/失敗分佈圖,您甚至可以檢測單匝故障。觀看此視頻,了解如何輕鬆進行設置並立即開始測試。

規格表

資料下載

升級·軟體