產品一覽
Products
部分放電檢測儀 ST4200
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需要USB轉換器 -
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檢測馬達內部輕微絕緣不良的雙模式部分放電檢測儀
- 雙模式部分放電檢測：AC PD或是脈衝PD檢測
- 使用高頻CT的抗雜訊部分放電檢測
- 與高壓多通道測試模組SW2001組合使用
雜訊強的地方也能檢出部分放電，提升EV馬達品質
部分放電檢測儀ST4200與高壓多通道測試模組SW2001組合使用，能夠實現檢測馬達生產測試用總括的部分放電(PD)並輕鬆組入既有系統。
ST4200使用高頻CT進行PD檢測，可以減少產線上的雜訊干擾。排除過往使用微波天線進行PD檢測時會出現雜訊的情況。
ST4200使用高頻CT進行PD檢測，可以減少產線上的雜訊干擾。排除過往使用微波天線進行PD檢測時會出現雜訊的情況。
為何部分放電測試對EV馬達如此重要？
EV馬達常因SiC或GaN等功率半導體的高電壓、高速開關使其面臨許多種課題。因此，變頻器的脈衝雜訊更加嚴重，進而影響嚴重馬達的絕緣。而這是過往的絕緣電阻與耐電壓測試中無法檢測的潛在問題。
現在我們可以透過ST4200進行部分放電測試，找出潛在不良的產品。
現在我們可以透過ST4200進行部分放電測試，找出潛在不良的產品。
針對潛在不良的檢出
雙模式檢出部分放電
ACPD 測試（根據IEC 60270 或 IEC 60034-27-1 標準）和脈衝PD測試（根據IEC 61934 Ed. 2 或IEC60034-27-5 標準）可偵測馬達繞組中的潛在絕緣不良，透過可選擇的PD測試，能依據每個馬達的特殊需求自訂檢查程序，進而最大限度的檢測出潛在不良品。
ACPD 測試（根據IEC 60270 或 IEC 60034-27-1 標準）和脈衝PD測試（根據IEC 61934 Ed. 2 或IEC60034-27-5 標準）可偵測馬達繞組中的潛在絕緣不良，透過可選擇的PD測試，能依據每個馬達的特殊需求自訂檢查程序，進而最大限度的檢測出潛在不良品。
產線中也可以進行高信賴性的PD測試
使用高頻CT進行抗雜訊的部分放電檢測
使用高頻CT進行PD測試，可以減輕利用微波天線在產線中進行部分放電時出現的雜訊干擾以及減少周遭測量設備的干擾，穩定測量結果。
這個測試方法，可以輕鬆達成微波天線測量難以完成的馬達脈衝部分放電測試。
使用高頻CT進行PD測試，可以減輕利用微波天線在產線中進行部分放電時出現的雜訊干擾以及減少周遭測量設備的干擾，穩定測量結果。
這個測試方法，可以輕鬆達成微波天線測量難以完成的馬達脈衝部分放電測試。
降低雜訊影響的簡易系統設計
與高壓多通道測試模組SW2001組合使用
將ST4200與SW2001組合使用，能把測試系統簡化，大幅減輕雜訊影響。
還能統合各種儀器，將配線與互相連接的影響降到最低，測量環境也變得整潔，也能減輕電磁干擾(EMI)、接地迴路、電容耦合等雜訊。實現更加準確，更高信賴性的測量。
將ST4200與SW2001組合使用，能把測試系統簡化，大幅減輕雜訊影響。
還能統合各種儀器，將配線與互相連接的影響降到最低，測量環境也變得整潔，也能減輕電磁干擾(EMI)、接地迴路、電容耦合等雜訊。實現更加準確，更高信賴性的測量。
ST4200
規格
AC PD 測量 基本參數
| 檢測方式 | 基於IEC 60270 和 IEC 60034-27-1測出阻抗和帶通濾波器所使用的放電電荷量測試方式 |
|---|---|
| 測試頻率範圍(施加電壓) | 45 Hz ～ 1.1 kHz |
| 電荷量測量範圍（Q） | 10 pC ≦ Q ≦ 500 pC（供試體靜電容量C：200 pF ≦ C < 2 nFにおいて） 10 pC ≦ Q ≦ 2500 pC（供試體靜電容量 C：2 nF ≦ C ≦ 10 nFにおいて) |
| 測量項目 | 【一般模式】 重複發生最大 PD 強度（Q max）, PD脈衝發生次數（m, m+, m-）, PD脈衝發生率（n）, 電壓有效值（U rms）, 電壓波高值（Up+, Up-）, 平均放電電流（I）, 放電功率（P）, 二次率（D）, PD脈衝所找到的電荷（q）, PD脈衝相位角（φ） 【PDIV模式】（一般模式的值追加後的下個值） PD 開始電壓（Ui）、PD 消滅電壓（Ue） |
脈衝PD 測量
| 檢測方式 | 基於IEC 61934 Edition 2.0或IEC 60034-27-5，依據CT 與數位濾波器的放電電流檢測 |
|---|---|
| 取樣速度 | 200 MS/s |
| 測定項目 | 【一般模式】 PD 峰值放電量（Qpk）、脈衝列中的 PD發生（m） 【PDIV模式】（一般模式的值追加後的下個值） PD 發生開始電壓（PDIV）, 重複 PD 發生開始電壓（RPDIV）, 重複 PD 消滅電壓（RPDEV）, PD 消滅電壓（PDEV）, 重複 PD峰值放電量（RQpk） |
高電壓發生源 控制
| 控制內容 | 作為部分放電測試的高電壓發生源的耐壓測試器、脈衝線圈測試器等連動控制 |
|---|---|
| 對應儀器（2025年2月現在） | 自動絕緣耐壓測試器 3153， 脈衝線圈測試器 ST4030A， 其他 |
AC PD 測量、脈衝PD 測量 共通
| 測定模式 | 一般模式:施加一定電壓，進行單次或是連續測試 PDIV模式：依據標準規格改變施加電壓進行測試 |
|---|---|
| 功能 | 判斷功能、圖表顯示功能(AC PD: 電壓波形, PD脈衝監控/脈衝 PD: 電流波形, PD脈衝監控） |
| 外部記憶裝置 | SD卡、USB、內置SSD ※請使用HIOKI出品的SD卡 |
| 放射性無線周波電磁場的影響 | 50 pC以下（10 V/m） |
| 傳導性無線周波電磁場的影響 | 50 pC以下（10 V） |
| 和電源重疊的脈衝雜訊的影響 | 50 pC以下（1 kV,脈衝幅50 ns的雜訊脈衝重疊時） |
| 面板 | LAN, USB, RS-232C（需要市販的USB轉換器）, EXT. I/O, 監控輸出 |
| 電源 | 額定電源電壓：AC 100 V～240 V, 額定電力：300 VA |
| 外觀、尺寸 |
約353（W）×約235（H）×約154.8（D） mm（不含突起物）, 約7.3 kg（U8332安裝時), 約7.1 kg（U8332未安裝時） |
| 配件 | 電源線× 1、快速開始指南 × 1、使用上的注意 × 1 |
點擊下方選框選擇分類，會顯示該選件的選項。
可搭配產品/選件
高壓多通道測試模組
保存媒介
請使用HIOKI出品的SD卡進行資料保存。若使用其他廠牌產品，恕不保證其正常運作與讀取。
USB 儲存體 Z4006
- 16 GB，採用壽命長、可靠性高的 SLC 型快閃記憶體
SD 儲存卡 Z4003
- 8 GB
SD 儲存卡 2GB Z4001
- 2 GB
內置記憶體
工廠安裝選件，若有需求請於下訂時告知。
SSD模組 U8332
- 下訂時指定安裝選件，組裝於主機內部，256 GB
通訊線纜
RS-232C線纜 L9637
- 用於外部控制，雙屏蔽，9pin-9pin，線長 3 m
USB連接線(A-B) L1002
- 1 m
部分放電感測器
若不使用SW2001需要另外的感測器。
脈衝部分放電感測器，請洽詢業務人員。
部分放電感測器 ST9210
- AC部分放電檢測用
| 項目 | 分類 | 版本 | 公開日期 |
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