1台儀器可連續測量聚合物電容器、導電性高分子電解電容、導電性高分子鉭電容等低ESR和靜電容量。

■Point

• 使用阻抗分析儀IM3570的LCR模式，可以連續進行120Hz下的C-D測量、100kHz下的ESR測量。
• ESR測量，使用低阻抗高精度測量模式。
• 可進行改善後的低阻抗測量反覆精度。透過使用4端子的接觸檢查功能（僅開路檢查），可實現更加準確的測量。
• 使用比較功能，分別進行C-D、ESR判斷。
• 連續測量中，測量頻率的切換等待時間縮短至 1ms，實現高速測量。

■測量方法

1. 透過面板保存功能，將測量條件保存至面板中。
   ※LCR測量條件最多可設置30個
2. 將低電阻模式功能打開。
3. 在連續測量模式功能下，從面板（測量條件）列表中選擇連續測量面板。

使用設備

• 阻抗分析儀︓IM3570
• ４端子探棒︓L2000

記載內容為2010年7月的資訊。產品參數可能會有更改，請以現在發行的為準。

功能性高分子電容的特性檢查.pdf (2.40M) file_download