產品應用・用途
Application電池測試時的測試線迴圈影響可視化
利用BT6065/75的ADVANCED模式，觀測電抗值X，藉此改善測試線迴圈的影響。
■Point
• 非正確的絞線，會使得迴圈(loop)面積會變得很大，所產生的渦電流相互干擾，再加上周邊設備雜訊…等因素，讓測量結果容易受影響。
• 透過Reactance電抗值 X 的觀測，可將目前的測試線迴圈面積的影響以數值化呈現。 X的值越小，代表迴圈對測量值的影響越小，可由此檢視測試線絞線是否成功使迴圈的影響降到最低。
• 傳統做法會以目測方式確認測試線是否有迴圈，但是無法數值化。
• 以往不管是以手動量測或是自動化設備搭載量測時，都會用Gold Sample去測量，並藉此檢測當下配線是否可量測正確，但是配線的狀態還是無法數值化。
• 使用電池檢測器(電池測試器)BT6065、BT6075的「ADVANCED」功能，能夠測量並數值化顯示Reactance電抗值 X 。
使用設備
• 電池檢測器（電池測試器） BT6065、BT6075
• 測試治具(請洽業務人員)
記載內容為2025年9月的資訊。產品參數可能會有更改，請以現在發行的為準。
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