C測試儀 3504-50

封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等

輸入用探頭/測試夾具，實體不附帶。按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件

測量參數	Cs,Cp（電容）,D（損耗係數tanδ）
測量範圍	C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000
基本精度	（代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※測定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E為各係數
測量頻率	120Hz, 1kHz
測量信號電平	恒壓模式: 100mV (僅限3504-60)， 500 mV, 1 V 測量範圍: CV 100mV:～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz) CV 500mV: ～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz) CV 1V: ～ 70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 700μF 量程 (測量頻率 120Hz)
輸出電阻	5Ω（CV測量範圍以外的開路端子電壓模式時）
顯示	發光二級管（6位表示，滿量程計算器根據量程而定）
測量時間	典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） ※測量時間根據測量頻率、測量速度的不同而不同
功能	BIN分類測量 (3504-40除外), 觸發同步輸出, 測量條件記憶, 測量值的比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動功能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C介面（標配), GP-IB介面(3504-40除外)
電源	AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, 最大110VA
體積及重量	260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件	電源線×1，預備電源保險絲×1，使用說明書×1

點擊下方選框選擇分類，會顯示該選件的選項。

鑷形探棒 L2001
- DC 至 8MHz，50Ω 終端
- 尖端電極間距：0.3 至 6 mm
- 可測量樣品尺寸：0603 (EIA)
- 用於小芯片元件 LCR 測試的 2 線探針
4端子探棒 9140
- DC～100 kHz, 1m, 75Ω
測試治具 9261
- DC～8MHz, 1m, 75Ω
測試治具 9262
- 直連式
- DC〜8MHz（與特注品 IM3536-01搭配使用時，最大可測量10 MHz）
- 可測量端子直徑：0.3〜2mm
SMD測試治具 9263 9263
- 直連式
- DC〜8MHz（與特注品 IM3536-01搭配使用時，最大可測量10 MHz）
- 被測物尺寸：1〜10mm
SMD測試治具 9677
- 直連式，側邊有電極的SMD用，DC〜120MHz，被側物尺寸：3.5 ±0.5mm
SMD測試治具 9699
- 直連式，側邊有電極的SMD用, DC〜120MHz
- 被側物尺寸：寬1.0〜4.0mm，高度1.5mm 以下
前端探針 IM9901
- L2001前端更換用通用尺寸，L2001標準配備品
前端探針 IM9902
- L2001前端更換用，小型尺寸